Характеристики и описание
- Производитель
- Страна производительЯпония
Описание
Мощная полностью автоматизированная исследовательская система конфокальной микроскопии компании Nikon А1+ предназначена для захвата конфокальных изображений клеточных и молекулярных процессов с высочайшей скоростью и чувствительностью.
- Конфокальный лазерный микроскоп компании Nikon А1+ выпускается в двух вариантах: полностью автоматизированная система конфокальной микроскопии А1+ и высокоспецифичная модель конфокального микроскопа А1R+. В конфокальном микроскопе А1+ используются традиционные парные гальванометры для получения изображений высокого разрешения вплоть до 4 096 х 4 096 пикселей.
- Конфокальный микроскоп A1R+ комплектуется уникальным гибридным сканером, имеющим скорость захвата до 30 кадров в секунду, размер кадра 512 х 512 пикселей. Более того, гибридный сканер конфокального микроскопа Nikon A1R+ позволяет одновременно проводить фото-активацию и захват изображения, что необходимо при исследовании динамики клеточных процессов на конфокальном микроскопе.
- Гибридный конфокальный сканер повышает оптическую эффективность и минимизирует потери света, за счёт чего можно использовать лазерное излучение с очень низкой интенсивностью. Низкая интенсивность лазерного излучения увеличивает продолжительность жизни исследуемых живых клеток и снижает степень выгорания флуорохромов.
- Модель конфокального микроскопа Nikon A1R+ включает резонансный сканер с частотой 7.8 кГц, позволяющий получать изображения со скоростью до 420 кадров/с (512 х 512 пикселей). Более того, область захвата резонансного сканера перекрывает область гальвано-сканера. С помощью оптоволоконного кабеля передача данных осуществляется со скоростью 4 Гб/с.
- За счет того, что в конфокальном микроскопе Nikon A1R+ гальвано- и резонансный сканеры заключены в единый модуль, фото-активация и флуоресценция могут использоваться одновременно. Резонансный сканер конфокального микроскопа Nikon A1R+, захватывающий изображения при высокой скорости, дает возможность изучать изменения процессов после фото-активации.
- В сканере конфокального микроскопа Nikon A1R+ используется дихроичное зеркало с маленьким углом падения света со средней пропускаемостью 98%, это на 30% увеличивает эффективность регистрации флуоресценции. В результате изображения получаются более яркими, появляется возможность снизить интенсивность лазерного свечения и снижается повреждение клеточных структур.
- Модуль VAAS (Virtual Adaptable Aperture System) от Nikon минимизирует появление «вне фокусной» информации, появляющейся на изображении, в то время как яркость остается неизменной. За счет функции вычитания сигнала, пришедшего от фотонов, прошедших через фокальную диафрагму из плоскости, близлежащей к фокальной, из сигнала от фотонов, прошедших через фокальную диафрагму из фокальной плоскости, снижается потеря контраста изображения. Аналогичным образом можно повысить и разрешение, особенно вдоль оси Z. Оптические слои различной толщины могут быть воссозданы благодаря пост-обработке с помощью системы VAAS.
Технические характеристики
|
Конфокальный исследовательский микроскоп A1R+ |
Конфокальный исследовательский микроскоп A1+ |
|
|
Порт вход/выход |
Порт входа лазеров: 3 (FC x 2, direct x 1) Порт выходного сигнала: 4 (SMA x 2, FC x 1, VAAS x 1) |
|
|
Лазерный модуль |
||
|
Длины волны и мощность |
405LD: макс. 38 мВт Мульти-Ar (457/488/514): макс. 65 мВт 488DPSS: макс. 75 мВт 561DPSS: макс. 25 мВт 543HeNe: макс. 1 мВт 638LD: макс. 10 мВт 440LD: макс. 15 мВт (опция) |
|
|
Модуляция |
Метод: акусто-оптический привод или управление током возбуждения Управление: управление интенсивностью для каждой длины волны, маска отражения, управление экспозиции в области ROI |
|
|
Лазерный модуль |
Стандартный: LU4 4-лазерный модуль Дополнительный: C-LU3EX 3-лазерный модуль EX |
|
|
Стандартный флуоресцентный детектор |
||
|
Детектор |
4 ФЭУ |
|
|
Кубики фильтров |
6 кубиков фильтров, обычно использующихся для микроскопа, устанавливаемых в каждом из трех револьверов Рекомендуемые длины волн: 450/50, 482/35, 525/25, 595/50, 700/75, 540/30, 515/30, 585/65 |
|
|
Детектор проходящего света |
||
|
Детектор |
ФЭУ |
|
|
Сканирующая насадка |
||
|
Сканирование |
Область сканирования: квадрат, вписанный в круг d 18мм Стандартный захват изображения Сканер: нерезонансный сканер (2 шт.) Размер: максимально 4 096 x 4 096 пикселей Скорость сканирования: 4 кадра в секунду (512 x 512 пикселей) Трансфокация: 1-1000x, постоянно меняющаяся Варианты сканирования: X-Y, XY поворот, свободная линия, линия Z Высокоскоростной захват изображения Сканер: резонансный сканер (X-ось, резонансная частота 7.8 кГц), нерезонансный сканер (Y-ось) Размер: максимально 512 x 512 пикселей Скорость сканирования: от 30 кадров в секунду (512 x 512 пикселей) до 230 кадров в секунду (512 x 64 пикселей), 15 600 линий/с (линейная скорость) Трансфокация: 7 вариантов (1x, 1.5x, 2x, 3x, 4x, 6x, 8x) Варианты сканирования: X-Y, линия Метод захвата: стандартный захват изображения, высокоскоростной захват изображения, одновременная фото-активация и захват изображения |
Стандартный захват изображения Сканер: нерезонансный сканер (2 шт.) Размер: максимально 4 096 x 4 096 пикселей Скорость сканирования: 4 кадра в секунду (512 x 512 пикселей) Трансфокация: 1-1000x, постоянно меняющаяся Варианты сканирования: X-Y, XY поворот, свободная линия, линия Z |
|
Дихроичное окно |
Метод малого угла падения Позиций: 8 Стандартные фильтры: 405/488, 405/488/561, 405/488/561/638, 405/488/543/638, 457/514, BS20/80 |
|
|
Конфокальная диафрагма |
12-256 мкм, изменяемая |
|
|
Спектральный детектор |
||
|
Количество каналов |
32 канала |
|
|
Скорость спектрального захвата изображения |
4 кадра в секунду (256 x 256 пикселей), 1 000 линий в секунду |
|
|
Максимальная длина волны и разрешение |
80 нм (2.5 нм), 192 нм (6 нм), 320 нм (10нм) Длина волны варьируется с шагом 0.25 нм |
|
|
Разделение |
Высокоскоростное разделение, точное разделение |
|
|
Шаг по оси Z |
0.025 мкм |
|
|
Совместимые микроскопы |
Eclipse Ti-E инвертированный микроскоп Eclipse TE2000-E инвертированный микроскоп Eclipse 90i прямой микроскоп Eclipse FN1 микроскоп с фиксированным положением столика |
|
|
Дополнительно |
Моторизованный столик XY, высокоскоростной Z-столик, VAAS |
|
|
Программное обеспечение |
||
|
Вывод изображения |
2D, 3D объемное изображение/ортогональное, 4D, спектральное разложение |
|
|
Формат файлов |
JP2, JPG, TIFF, BMP, GIF, PNG, ND2, JFF, JTF, AVI, ICS/IDS |
|
|
Применение |
FRAP, FLIP, FRET, фото-активация, трехразмерный временной захват, многоточечный временной захват, колокализация |
|
|
Управление с помощью компьютера |
||
|
Операционная система |
Microsoft Windows® XP 32bit SP (English version) |
|
|
Процессор |
Intel Xeon 5160 (3GHz/1333MHz/dual core) или выше |
|
|
Оперативная память |
4GB или выше |
|
|
Жесткий диск |
SAS (15 000 rpm), 160GB или выше x2, RAID 0 конфигурация |
|
|
Передача данных |
Выделенная передача данных I/F |
|
|
Монитор |
Разрешение 1 600 x 1 200 или выше, конфигурация 2-ЖК мониторов (рекомендовано) |
|
|
Условия эксплуатации |
Температура +5 – +35 °C, влажность 65% или ниже |
|
|
Источник питания |
||
|
Контроллер |
Входное напряжение: 100-240VAC ±10% 50-60Гц Ток: 5A @100VAC |
|
|
Блок питания для LU-LR 4-лазерного модуля |
Блок питания для Ar лазера и модуля управления: 100VAC, 15A/115VAC, 15A/230VAC, 7.5A, 50/60 Гц (защита 15A) Блок питания для лазеров за исключением Ar: 100VAC, 3A/115VAC, 3A/230VAC, 1.5A, 50/60 Гц (защита 5A) |
|
Доставка
Оплата и гарантии