Описание

Наилучшая производительность для визуального контроля и инфракрасного спектрального анализа микропроб с максимальным комфортом в использовании.

Благодаря внедрению электропривода на всех подвижных узлах прибора, в том числе ATR-кристалл, микроскоп LUMOS обеспечивает непревзойденную высокую степень автоматизации. Все необходимые изменения аппаратных настроек, а также весь процесс ИК-анализа, выполняются полностью автоматизированно - даже в режиме спектроскопии нарушенного полного отражения (ATR).

Интуитивно понятное программное обеспечение поэтапно сопровождает пользователя в процессе микроскопического анализа образцов. На каждом этапе пользовательский интерфейс предоставляет пользователю только уместные функции. Результаты измерений приводятся в одном файле, включая снимки, спектральные данные и информацию об образце. Для оценки и визуализации микроскопических данных программное обеспечение предоставляет обширную и интуитивно понятную визуализацию процесса химической обработки.

Несмотря на то, что микроскоп LUMOS предназначен для использования неспециалистами в рутинных задачах, исключительная чувствительность делает его также идеально подходящим в решении задач более высокого уровня.

 

 

Особенности:

• Автономный и полностью автоматизированный микроскоп FTIR
• Чрезвычайно удобен и прост в использовании
• Электропривод кристалла ATR (ATR - спектроскопия нарушенного полного отражения)
• Полностью автоматизированное измерение в проходящем свете, отражении и ATR
• Большое рабочее расстояние обеспечивает необходимое пространство для пробоотбора
• Превосходное качество диапазона как в ИК, так и в видимой области спектра
• Компактная сканирующая поверхность

 

Технические характеристики

Полностью автоматизированный микроскоп FT-IR

Микроскоп LUMOS представляет собой автономный FT-IR-микроскоп со встроенным FT-IR-спектрометром, идеально интегрированный в оптическую конструкцию. Все узлы оснащены электроприводом и запрограммированы. Инновация ATR-кристалла с электроприводом позволяет системе переключиться с режима измерения в проходящем свете или отражения на режим ATR без участия пользователя, а также в полном автоматизированном режиме измерить спектры образцов и фона, даже в режиме ATR.

• ATR-кристалл немецкого производства с электроприводом и внутренним контролем давления
• Прозрачная, с электроприводом, проверенная тестом «knife-edge» апертура
• Конденсатор с электроприводом
• Поляризатор + анализатор видимой области спектра с электроприводом (опционально)
• Предметный столик с электроприводом (опционально)
• Электропривод подачи по оси Z
• Автоматический переход из режима ИК в режим анализа видимой области спектра
• Автоматический переход из режима числовой апертуры в ИК и режим анализа видимой области спектра
• Электронное распознавание чашек Петри
• Превосходная оптика

 

Микроскоп LUMOS оснащен зум-объективом 8x, который используется в проходящем свете, отражении и режиме ATR. Оптика микроскопа LUMOS специально разработана для этих целей, что обеспечивает высокое качество изображения, исключая искажения кривизны поля. Для достижения высокой резкости в целях визуального контроля образца, но также и самой высокой чувствительности для ИК-анализа, прикладная цифровая апертура автоматически переключается между режимами ИК и анализа видимой области спектра.

• Зум-объектив 8x для автоматизированных измерений в проходящем свете, отражении и ATR
• Увеличение может быть установлено до 32x с помощью цифрового зума
• Большое поле зрения при высокой числовой апертуре
• Независимая светодиодная подсветка белого цвета в проходящем свете и отражении
• «Апертуры Келера» для максимальной контрастности
• Захват изображения с помощью цифровой ПЗС-камеры с высоким разрешением

 

Интеллектуальная конструкция

Микроскоп LUMOS очень компактен, требует меньше лабораторного пространства, чем обычные микроскопы FT-IR. Тем не менее, он обеспечивает необычайно большое пространство между объективом и предметным столиком, предоставляя пространство для образцов толщиной до 40 мм. Благодаря беспрепятственному доступу к плоскому предметному столику размещение образца очень удобно.

 

Мощная технология FT-IR

Сердцем каждого FT-IR-спектрометра является интерферометр. Микроскоп LUMOS использует запатентованный, надежно отцентрированный интерферометр RockSolidTM, который крайне устойчив к наклонам зеркала, вибрациям и тепловым воздействиям.

• Надежно отцентрированный уголковый интерферометр обеспечивает максимальную стабильность
• Зеркала с золоченым покрытием для максимальной эффективности
• Все прозрачные окна ИК и ИК светоделитель изготовлены из селенида цинка (ZnSe), что обеспечивает прочность даже при высокой влажности
• Инфракрасный источник света с длительным сроком службы (> 5 лет)
• Твердотельный лазер с длительным сроком службы (> 10 лет)
• Высокочувствительный фотопроводящий детектор MCT; детектор DTGS (опционально)

 

Отбор крупных образцов

Несмотря на то, что микроскоп LUMOS является автономным микроскопом FT-IR, он также предоставляет возможность анализировать большие образцы с использованием модуля MACRO UNIT, подключаемого к левой стороне микроскопа. Модуль MACRO UNIT позволяет использовать все модули пробоотбора QuickSnapTM компактного FT-IR-спектрометра ALPHA, тем самым обеспечивая гибкость пробоотбора практически всех видов твердых, жидких и газообразных образцов.

Реализованные в приборах технологии защищены одним или несколькими из следующих патентов:
DE 102004025448; DE 19940981; US 5923422; DE 102012200851 B3; US 8873140 B2

 

Широкий диапазон применения

Микроскоп LUMOS обеспечивает высококачественные данные, а также визуализацию. ИК-анализ предоставляет высокую разрешающую способность по спектру, что открывает широкий спектр возможностей применения прибора.

Идентификация мелких частиц или поверхностных загрязнений имеет решающее значение для поиска причин отказа изделий, что, практически, актуально для всех отраслей промышленности.

В судебной экспертизе анализ волокон, химических остатков и частей лака может служить доказательством в уголовных делах. Кроме того, ИК-микроскопическое исследование чернил на бумаге является эффективным методом в выявлении поддельных документов и банкнот. 

Химический состав неоднородных структур, таких как многослойные полимеры, картины или биологические ткани, может быть визуализирован с использованием технологии отображения. Это дает доступ к решению множества задач в области промышленных и научных исследований.

 

Идентификация частиц

• Электронных устройств
• Фармацевтических составов
• Оптических компонентов

 

Анализ дефектов и загрязнений

• Полимеров и резиновых изделий
• (Мелких) механических деталей
• Электронных устройств
• Таблеток
• Покрытий

 

Анализ поверхностей

• Покрытий
• Чернил на бумаге

 

Исследование многослойных структур

• Упаковочных материалов
• Полимерных слоистых материалов
• Лакокрасочных покрытий и лаков

 

Идентификация волокон

• В судебных экспертизах
• Изделий из текстиля

 

Определение химического состава сложных образцов

• Биологических тканей
• Таблеток

 

Реализованные в приборах технологии защищены одним или несколькими из следующих патентов:

• DE 102004025448;
• DE 19940981;
• US 5923422;
• DE 102012200851 B3;
• US 8873140 B2